Ημερομηνία: 05-03-2018, 13:00
Τοποθεσία: Αίθουσα Σεμιναρίων ΙΤΕ/ΙΕΧΜΗ
Focused Ion beam (FIB) as a Fabrication-Analysis-Microscopic (FAM) tool
SEMINARS
Speaker: Yafit Fleger, Head of the Charge Particle Microscope (CPM)
Bar Ilan Institute of Nanotechnology & Advanced Materials
Ramat Gan, Israel
Invited by: Prof. Sophia Antimisiaris
Theme: Focused Ion beam (FIB) as a Fabrication-Analysis-Microscopic (FAM) tool
Date: Monday, March 5th, 2018
Place: FORTH/ICE-HT Auditorium
Time: 13:00 h.
Πληροφορίες για την τοποθεσία
Αίθουσα Σεμιναρίων ΙΤΕ/ΙΕΧΜΗ
Stadiou Str., Platani, GR-26504 Patras, Hellas
Διοργανωτής
ΙΤΕ/ΙΕΧΜΗ
Οδός Σταδίου, Πλατάνι
www.iceht.forth.gr
Έναρξη: 05-03-2018, 13:00